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高度红外测温仪的红外基础理论分析

日期:2021-07-23浏览:982次

   高度红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量,红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号,该信号再经换算转变为被测目标的温度值。
  通常红外测温仪的度都是1℃以内。这种性能在做预防性维护时特别重要,如监视恶劣条件和将导致设备损坏或停机的特别事件时。因为大多数的设备和工厂运转365天,停机等同于减少收入,要防止这样的损失,通过扫描所有现场电子设备-断路器、变压器、保险丝、开关、总线和配电盘以查找热点。用高度红外测温仪甚可快速探测操作温度的微小变化,在其萌芽之时就可将问题解决,减少因设备故障造成的开支和维修的范围。
  高度红外测温仪的红外基础理论:
  红外线的波长在0.76-100μm之间,按波长的范围可分为近红外、中红外、远红外、远红外四类,它在电磁波连续频谱中的位置是处于无线电波与可见光之间的区域。红外线辐射是自然界存在的一种为广泛的电磁波辐射,它是基于任何物体在常规环境下都会产生自身的分子和原子无规则的运动,并不停地辐射出热红外能量,分子和原子的运动愈剧烈,辐射的能量愈大,反之辐射的能量愈小。
  温度在零度以上的物体,都会因自身的分子运动而辐射出红外线。通过红外探测器将物体辐射的功率信号转换成电信号后,成像装置的输出信号就可以*一一对应地模拟扫描物体表面温度的空间分布,经电子系统处理传显示屏上,得到与物体表面热分布相应的热像图。运用这一方法,便能实现对目标进行远距离热状态图像成像和测温并进行分析判断。

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