• 全反射X射线荧光分析仪

    在X荧光谱仪范围内,与波长色散谱仪(WDXRF)方法比较,由于TXRF分析技术用样量很少,也不需要制作样品的烦琐过程,又没有本底增强或减弱效应,不需要每次对不同的基体做不同的基体校准曲线。另外由于使用内标法,对环境温度等要求很低。因而在简便性、经济性、用样量少等方面,都比WDXRF方法有明显的优越性。

  • 能量色散X射线荧光分析仪

    X射线荧光(XRF)分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体,液体样品中主,次多元素同时测定,检出限在mg/kg量级范围内,制样方法简单,现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术,可以直接应用于现场、原位分析,在材料分析领域占有重要地位。

  • 便携能量色散X射线荧光分析仪

    X射线荧光(XRF)分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体,液体样品中主,次多元素同时测定,检出限在mg/kg量级范围内,制样方法简单,现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术,可以直接应用于现场、原位分析,在材料分析领域占有重要地位。

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